パナソニックグループ エナジー社は、同社製HIT太陽電池モジュールがPID（電圧誘起出力低下）に対して高い耐性を有することを、社内および第三者機関の検証結果により実証した。
PID現象とは、太陽電池モジュールでモジュール内部回路（太陽電池セル）と接地されたフレームとの間に高電圧がかけられた状態で、温度や湿度などの外部要因が加わった場合に生じることがある出力低下現象で、太陽光発電システム全体の総出力を低下させる恐れがある。一般にシステム電圧が高く、高温多湿な環境において起こりやすいとされている。
HIT太陽電池は、欧州、米国、日本のこれまでの市場実績においてPID現象の発生の報告がまったくないことや、第三者機関で実施した摂氏60度、相対湿度85％、電圧1000V、試験時間96時間という厳しい試験においても出力低下が起こらなかったことなどから、極めて高いPID耐性を有することを実証した。
