東陽テクニカ、超低輝度有機EL検査技術を開発…10月発売へ

東陽テクニカの「DCM1000型DC-JVL測定システム」回路図
東陽テクニカの「DCM1000型DC-JVL測定システム」回路図全 1 枚

東陽テクニカは9月10日、米国子会社のTOYOTechがシャープディスプレイテクノロジー、北陸先端科学技術大学院大学と共同で、有機EL素子の超低輝度における挙動を調べる検査技術を開発した、と発表した。

この技術は、有機EL素子に急激に電流が流れ始める電圧と発光開始電圧の差を数値化するもので、劣化や低輝度で発生する表示ムラの解析に役立つと期待されている。

2024年10月1日には、「DCM1000型DC-JVL測定システム」として、米国、日本、アジア圏、ヨーロッパ圏に向けてTOYOTechが販売を開始する予定だ。


《森脇稔》

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