NECは、米国の大規模空港であるジョン・F・ケネディ国際空港（JFK空港）に、入国審査用の顔認証システムを納入したと発表した。
NECがJFK空港に納入したのは、顔認証システム「ネオフェイス」。入国審査用の自動ゲートで読み取ったeパスポートの顔写真データと、ゲートに備え付けられたカメラで撮影した旅行者の顔写真をリアルタイムに照合、同一人物であるかを高精度に判定するために利用する。
JFK空港では、ビザ免除プログラムを使って初めて米国に入国する旅行者と、eパスポートを保有する米国籍の帰国者を対象に、システムの運用を開始した。
NECの顔認証技術は、米国国立標準技術研究所が実施したベンチマークテストで、世界1位の照合精度を持つとの評価を得ている。今回のJFK空港のほか、米国アリゾナ州交通局、ブラジル主要14国際空港での税関業務など、これまでに世界40カ国以上で導入されている。
